色差仪怎么测色差?影响色差仪色差值的因素有哪些?

色差仪怎么测色差?色差仪是一种常见的光电积分式测色仪器,它利用仪器内部的标准光源照明被测物体,在整个可见波长范围内进行一次积分测量,直接测得透射或反射物体色的三刺激值和色品坐标,并可通过专用微机系统给出两个被测样品之间的色差值。本文对色差仪测色原理及色差仪测色影响因素做了介绍,感兴趣的朋友可以了解一下!

色差仪

色差仪测色差原理及方法:

色差仪是一种通过计算颜色差值来识别和比较颜色的光学设备,其工作机制实际上是对人眼识别颜色过程的部分模拟。在人眼视觉系统中,颜色判断是依据进入眼睛可见光的进行的,这种光线来自物体表面辐射、反射或者物体内部的透射,类似的在一个测色系统中,实际需要分析检测的就是进入仪器检测窗口的可见光。与人类视觉系统使用生物组织视网膜来识别光谱类似;在机器中这种颜色识别功能通常通过感光器件来完成的。人类比对颜色是在大脑中完成的,是对不同颜色信号的比较;色差仪则是在获得样本颜色数值后与记忆体中的颜色数值进行比较。

对色差仪而言,要获得待测可见光的首要条件是必须有能够反映待测样本颜色特征的光线。在颜色恒常性的部分阐述我们知道,特定环境中观察物体颜色时,依赖于当前光照条件的颜色谱系分布是确定的,但是一旦改变光照背景,机器传感器获得的颜色感应值发生变化,那么颜色的判断就不是恒常的了,这也就是机器视觉不具备颜色恒常性的原因。要解决这个问题,需要在一个和测量环境无关的颜色谱系空间中获取样本的反射光线,所以测色仪器中都会使用统一的内置光源来刺激物体表面,这样就相当于将所有待测物体都置于一个跟机器相关的系统光照条件下,而这系统光照条件下的颜色谱系分布也是确定的了。

在色差仪内有一个光源,每次测量时,光源使用单色白光多次照射样本,或者使用单色LED分组多次照射样本,在照射的同时使用CMOS感光阵列获得反射可见光的信息,然后经过后期的去噪、平均后获得样本颜色的系统颜色空间坐标值。需要补充的是在色差仪能够测色之前需要将标准颜色库信息装载到色差仪当中,并且使用纯黑或纯白色的系统颜色空间参考点同标准颜色库的标准颜色空间进行比对计算,从而求出两个颜色空间的映射关系,当标准照明体选定时,其是一个常数。

在颜色空间映射参数确定的条件下,一旦测得的系统样本颜色值被计算出来后,就可以在与映射参数计算从而得出和具体机器、硬件系统、光照条件无关的L*a*b*值。所以当系统要测量未知颜色时,这个样本L*a*b*空间坐标值就可以用来寻找最接近的标准颜色;反之,如果查看样本颜色是否符合落在期望颜色偏差的阈值内,则将样本的L*a*b*值与期望颜色的L*a*b*值作为选定色差公式的输入来计算色差距离△E,从而进行色差判断。

三恩时色差仪

影响色差仪色差值的因素:

1.光源的影响

照射光包含有太阳光和外界杂散光,太阳照射角度、云层厚度和其它天气条件都会导致照射光发生变化,从而导致被测物体颜色发生变化。

CIE(国际照明委员会)推荐了几种标准照明体和标准光源,制定了标准照明条件、测量条件和白色标准,以便各国的颜色参数能够交流、对比。照明光源的光谱功率分布与物体呈现的颜色有密切的关系。同一物体,在不同的光源照明下具有不同的颜色。

为了较为准确和规范地描述色调,CIE制定了4种标准光源,以统一色调值。这4种标准光源分别为A、B、C和D65光源,在这4种标准光源中,常用C光源和D65光源,我国以D65为标准光源。

2.光源方位和观测方位的影响

光源方位,也就是被测物体指向光源的法线方向,它决定了有多少太阳光或外界杂散光作为入射光。观测方位是指被测物体指向传感器的法线方向。它决定了反射到传感器中的光强。光源方位和观测方位都是影响测量结果的因素。此外,照明光束的孔径和测量光束的孔径大小对颜色测量结果也有影响。将照明几何状态、照明光束的孔径、测量光束的孔径统称为照明和测量条件。在色度学中CIE推荐了45/0、0/45、d/0、0/d四种照明观测条件,国家标准局又增加了t/0、0/t两种照明观测条件,同一颜色物体在不同照明观测条件的仪器上测量结果是不一致的。

3.被测物表反射状况的影响

照明几何状态对测量结果会有很大的影响,绝大多数待测物体不是完全的漫反射体,表面有部分的规则反射。照射在物体上的辐射通量一部分被吸收,一部分可能透射过去,其余部分被有方向性地反射出来。被吸收的辐射通量转化为热能,透射部分朝着离开眼睛的方向传播,这两部分辐射通量对眼睛都不起作用,只有由物体从一定方向反射而进入到眼睛的那部分辐射通量才构成颜色刺激。因而同样的物体在不同的方向上有不同的反射或透射。

传感器探头与被测物之间的距离影响着输出信号,可能会造成不同颜色信号的交叉,形成测量误差,所以存在某一最佳距离对输出特性影响最小,以保证颜色与输出信号的一一对应关系。被测物表而的较明显凹凸区域也会给输出信号带来较大的误差,为此,有人先后提出了反射模型以弥补测量误差。


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